半导体器件参数测量仪-CB100562020000119

基本信息：
申购单号：CB100562020000119 申购主题：半导体器件参数测量仪 采购单位：天津大学 报价要求：国产含税 发票类型：增值税普通发票 币种：人民币 预算：******
签约时间：发布竞价结果后7天内签约合同 送货时间：合同签订后7天内送达 安装要求：免费上门安装（含材料费） 收货地址：***
付款方式：货到验收合格后付款 备注说明：
申购明细：
序号
1
采购内容
半导体参数分析仪
数量
1
预算单价
品牌 泰克公司，Keithley
型号 4200A-SCS
规格参数 主要参数及技术指标： 1.*配3个中功率直流I/V测量单元，指标如下： 电流源输出电流/分辨率：100nA/5pA，100mA/5μA 量程/分辨率/偏置电流：100nA/50fA/30pA，100mA/50nA/3μA 电压源输出电压/分辨率：200mV/5μV，200V/5mV 量程/分辨率/偏置电压：200mV/0.2μV/80μV，200V/200μV/3mV 2.*配2个前置放大单元(直流源测量单元)，指标如下： 电流源输出电流/分辨率：1pA/1.5fA 量程/分辨率/偏置电流：1pA/0.01fA/10fA 前置放大单元为源测量单元的附件, 电压参数与其所在模块相同 3.*配1个CV测量单元，指标如下： 不同频率下的C-V测试，频率范围不小于1K-10MHz 可测量Cp-G, Cp-D, Cs-D, R-jX, Z-theta等参数 测试信号电平10mV rms – 100mV rms，分辨率1mV 直流偏置电压范围: ≥±30V 4.主机计算机配置LAN, GPIB, USB, RS-232, 串口, 硬盘，Windows 7及以上操作系统。 5.*具有不少于9个基于PCI总线的插槽用于系统扩展。 6.系统软件具有以下功能： Windows操作, 图形化界面, 全集成化，无需编制程序 标准半导体器件参数测试库 纳米器件参数测试库 WLR可靠性参数测试库 半导体CV参数分析库 提供四探针法电阻率测量方案及相应硬件
质保及售后服务 按行业标准提供服务报价地址：***