清设报第2012048号
清华大学拟对用于材料分析的‘能谱仪与电子背散射衍射系统’进行招标,欢迎具有相应资质的单位报名参与投标。项目情况及相关要求如下:
一、项目简介
清华大学(北京电子显微镜中心)购置“能谱仪与电子背散射衍射仪”其中配置在FIB(型号FEI-Helios nanolab 600i或 Zeiss AURIGA)EDS+EBSD上一套;配置在SEM(型号:FEI-nano 450或Zeiss- Merlin)上EDS+EBSD一套;配置在JEOL JEM-2010F上EDS一套。
二、招标内容及主要参数要求
配置在FIB上的EDS+EBSD系统
(一) 主要技术指标:
能谱仪
1. 探头类型:电制冷半导体硅漂移探测器,晶体活区面积20 mm2或以上;可分析元素范围:B4~U92;峰背比优于20000:1;能量分辨率(20000CPS):Mn-Ka优于129eV;
2. 图像系统:具有高性能的图像系统,在能谱和EBSD一体化平台上实现能谱的采集与定量分析、线扫描及全息面扫描
3. 应用软件:背景扣除,定性、定量分析,点、线、面分析、定量面分布等
背散射电子衍射仪
1. 该设备为扫描电镜附属设备,与能谱仪形成一体化系统,用于材料的物相和结构组合分析。
2. 高解析率(640×480像素)数字相机,在识别率优于99%条件下每秒采集并解析600点以上; 可以实现动态原位分析。
3. 加速电压3KV,束流小于500pA时可采集到花样
4. 空间分辨率0.05um(场发射电镜)
5. 探测器耐用,取向测量精度优于0.5度。
6. 海量晶体学数据库,含ICSD数据库,并且已经滤掉伪对称数据。
7. 能谱仪和EBSD一体化采集、分析,64位最新软件,图像清晰度不低于4096*4096,可以自动和手动进行背景扣除等设定。
8. 操作软件算法先进;相似的物相结构易识别。
9. 可选择一定的方法,以提高相似相结构分析的精确度
10. 全套操作软件包括取向成图、极图与反极图等完整功能,软件应至少具有如下功能:
? 全套操作软件包括取向成图、极图与反极图等完整功能,软件应至少具有如下功能:全自动织构定量分析和模拟软件能够在一个软件平台上同步采集EBSD和能谱数据,进行化学预过滤的指标化和相鉴定。
? 晶体学数据库及EBSD专用材料数据库配备结构生成器,方便的人工建立扩充。
? 能自动进行多相材料EBSD mapping。
? 在线即时显示取向的动态mapping;能够对同一面扫描标定并鉴别多相组织;系统能够标定所有的晶系和空间点阵结构;系统会在数据收集期间进行自动漂移矫正。
? 用于数据管理的界面,可进行多重数据组的同时显示、处理和比较。
? 用于EBSD面扫描的数据分析,包括分布图、图表、绘制图和交互式分析,分布图(Map)包括:花样质量、反极图、晶粒尺寸、相和晶体取向等。
? 晶界特征包括:相界, 晶界旋转角, axis/angle对等。
? 离散绘图Plots 包括极图, 反极图,欧拉空间图等。
1) 强度绘图包括: 花样质量,反极图,晶粒尺寸,相和晶体取向。
(二) 辅助指标描述:
1. 能谱仪、电子背散射仪与FIB一体化软件,可以自动读取和控制FIB电镜参数,
2. 提供完整的离线能谱及电子背散射衍射分析软件
3. 图像主动漂移校正
4. 实现扣除背景和剥离重叠峰位后的元素线扫描、面扫描
5. 有成熟的EDS+EBSD 3D重构软件,实现成分和晶体取向的3D重构
6. 计算机:计算机工作站最低配置: CPU/Intel Cure 2 Duo 2.4GHz ,内存/8GB,硬盘1TB;8x DVD-RW读可写光驱;22”平板液晶显示器;
配置在SEM上EDS+EBSD
(一) 主要技术指标:
能谱仪
1. 探头类型:电制冷半导体硅漂移探测器,晶体活区面积10 mm2或以上,确保在小束流条件下成倍提升输入计数率和采集效率,提高电镜图像质量和节省灯丝损耗,提高空间分辨率,实现纳米尺度的成分分析。
2. 完全独立真空,真空度不随更换样品而变化
3. 可分析元素范围:B4~U92或更大
4. 峰背比优于20000:1
5. 能量分辨率(20000CPS):Mn-Ka优于127eV;
6. 提供原厂的书面说明材料或样本原件;
7. 图像系统:具有高性能的图像系统,在能谱和EBSD一体化平台上实现能谱的采集与定量分析、线扫描及全息面扫描
8. 应用软件:背景扣除,定性、定量分析,点、线、面分析、定量面分布等
电子背散射衍射仪
1. 该设备为扫描电镜附属设备,与能谱仪形成一体化系统,用于材料的物相和结构组合分析。
2. 高解析率(640×480像素)数字相机,在识别率优于99%条件下每秒采集并解析600点以上; 可以实现动态原位分析。
3. 加速电压3KV,束流小于500pA时可采集到花样
4. 空间分辨率0.05um(场发射电镜)
5. 探测器耐用,取向测量精度优于0.5度。
6. 海量晶体学数据库,含ICSD数据库,并且已经滤掉伪对称数据。
7. 能谱仪和EBSD一体化采集、分析,64位最新软件,图像清晰度不低于4096*4096,可以自动和手动进行背景扣除等设定。
8. 操作软件算法先进;相似的物相结构易识别。
9. 可选择一定的方法,以提高相似相结构分析的精确度
10. 全套操作软件包括取向成图、极图与反极图等完整功能,软件应至少具有如下功能:
? 全套操作软件包括取向成图、极图与反极图等完整功能,软件应至少具有如下功能:全自动织构定量分析和模拟软件能够在一个软件平台上同步采集EBSD和能谱数据,进行化学预过滤的指标化和相鉴定。
? 晶体学数据库及EBSD专用材料数据库配备结构生成器,方便的人工建立扩充。
? 能自动进行多相材料EBSD mapping。
? 在线即时显示取向的动态mapping;能够对同一面扫描标定并鉴别多相组织;系统能够标定所有的晶系和空间点阵结构;系统会在数据收集期间进行自动漂移矫正。
? 用于数据管理的界面,可进行多重数据组的同时显示、处理和比较。
? 用于EBSD面扫描的数据分析,包括分布图、图表、绘制图和交互式分析,分布图(Map)包括:花样质量、反极图、晶粒尺寸、相和晶体取向等。
? 晶界特征包括:相界, 晶界旋转角, axis/angle对等。
? 离散绘图Plots 包括极图, 反极图,欧拉空间图等。
2) 强度绘图包括: 花样质量,反极图,晶粒尺寸,相和晶体取向。
(二) 辅助指标描述:
1. 能谱仪、电子背散射仪与SEM一体化软件,可以自动读取和控制电镜参数,
2. 提供完整的离线能谱及电子背散射衍射分析软件
3. 图像主动漂移校正
4. 实现扣除背景和剥离重叠峰位后的元素线扫描、面扫描
5. 计算机:计算机工作站最低配置: CPU/Intel Cure 2 Duo 2.4GHz ,内存/8GB,硬盘1TB;8x DVD-RW读可写光驱;22”平板液晶显示器;
配置在JEOL JEM-2010F上EDS
(一) 主要技术指标:
1. 探头类型:电制冷半导体硅漂移探测器,晶体活区面积50 mm2或以上,确保在小束流条件下成倍提升输入计数率和采集效率,提高电镜图像质量和节省灯丝损耗,提高空间分辨率,实现纳米尺度的成分分析。
2. 完全独立真空,真空度不随更换样品而变化
3. 可分析元素范围:B4~U92
4. 峰背比优于20000:1
5. 能量分辨率(20000CPS):Mn-Ka优于129eV;
6. 提供原厂的书面说明材料或样本原件;
1) 谱仪硬件结构:采用分立式模块化的硬件设计和1394通讯协议,热稳定性好,升级和维修方便,避免长期使用可能造成的插槽虚接
2) 图像系统:具有高性能的图像系统,在采集与定量分析、线扫描及面扫描(包含常规面分布、定量面分布和快速面分布、快速智能面分布等),清晰度优于2048×2048;
3) 能谱标准应用软件
a) 背景扣除:采用先进的技术,人为误差小,元素种类的多少不会影响扣除结果,数据可以直接比较。
b) 定性分析:可自动和手动进行谱峰识别,并具有检验重叠峰识别准确性的可见峰剥离技术;
c) 定量分析:提供国际先进的定量修正技术,系统自动有效修正元素之间的相互吸收,确保不用任何经验因子也能得到准确结果;谱峰稳定,数据重现性好,不需要多元素校准峰位。
d) 定量结果显示:提供归一化结果和非归一化高级定量结果,
e) 软件界面:易操作导航器用户界面,所有应用软件在同一个平台上打开
4) 计算机等:计算机工作站,最低配置: Inter Core i7-2600 Processor,内存/8GB,硬盘1TB; DVD-RW读可写光驱;
(二)辅助指标描述:
1. 能谱与电镜一体化软件:自动读取和控制电镜参数。
2. 提供完整的离线能谱分析软件。
3.其它配备的应用软件:
1) 图象的漂移校准功能,拓展能谱仪的使用环境
2) 全息元素线扫描、面扫描。
3) 全中文软件操作界面及中文实时帮助系统
(三)售后服务:
1. 免费保修期至少一年(包括所需备件费用)。
2. 免费提供对2名用户管理人员的技术培训和基本维护培训。
3. 要求卖方在用户现场进行技术培训,一年以后提供现场的深入技术培训,终生提供免费的应用咨询以及技术帮助
4. 要求所有参与招标产品的生产、销售、后续维护等服务全部由同一家单位完成。
三、资格预审要求
1. 独立法人资格,投标企业注册资金证明,有针对本招标项目的法人代表授权委托书(原件)
2. 投标单位营业执照(复印件,加盖公章)
3. 企业资质证明,ISO9001质量体系认证(复印件,加盖公章)
4. 类似产品的销售业绩证明材料(销售合同复印件,加盖公章)
5. 不同时为制造商的投标商应提供对此次招标项目的制造商授权书(原件)
6. 提供产品相关技术性能资料。
报名时需提交以上资料,同时附上准备投标产品的品牌、型号以及该产品与本招标公告所开列的主要技术要求相对应的指标参数或文字表述。招标单位根据以上证明资料进行资格预审,招标人将从资格预审通过者中遴选邀请对象,未被邀请者恕不另行通知。
四、报名时间与地点
报名时间:2012年8月20日-2012年8月29日
(每天上午8:30-11:30,下午1:30-4:30,节假日休息)
报名地点:清华大学实验室与设备处9号楼223室
五、联系方式
联系人:王 慧,刘老师 联系电话***
E-mail: sys-zb@tsinghua.edu.cn