加入日期: | 2011.09.28 |
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截止日期: | 2011.10.13 |
地 区: | 湖北省 |
内 容: | 探针式轮廓仪 |
教学科研工作的需要,华中科技大学电子科学与技术系决定购置一套《探针式轮廓仪》,主要用于膜厚分析,要求采用接触式方式能精确测量镀膜膜厚及膜表面粗糙度,分辨率可达亚纳米级。2009 华中科技大学实验室与设备管理处
地址:湖北省武汉市洪山区珞瑜路1037号大学生活动中心A座二楼 电话:***
序 号
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名 称
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备 注
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1
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投标总价
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此处只需报总价即可(投标总价原则上不得高于其公司注册资金)。
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2
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注册资金
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3
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产 地
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4
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质 保 期
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指免费质保期。
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5
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交 货 期
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6
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技术偏离表
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有偏离必须说明。
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7
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产品授权
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现场展示(原件),说明授权单位。
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